原子力顯微鏡

原子力顯微鏡

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。

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商品描述

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。


測試服務:AFM測試

品牌:布魯克  型號:Dimension Edge


原理:原子力顯微鏡(AFM)通過檢測待測樣品表面和探針之間的相互作用力來表征樣品的表面結構及性質,它可以對樣品的表面形貌起伏、結構變化進行表征,獲得樣品表面的形貌、粗糙度和結構尺寸等信息。同時輕敲模式下可以得到相圖,表征樣品的組分、硬度、粘彈性質,模量等因素引起相位角變化。



送樣須知:

塊體、晶圓、薄膜等待測樣品尺寸:

5mm-210mm(可裁剪、破片的樣品尺寸可超過

210mm),高度:小于15mm。測試面需保持清潔無污染,不穩定的樣品需抽真空后寄樣防止樣品變質特殊樣品可寄樣前溝通確認。



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