掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡,簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(Scanning Electron Microscope)。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析?,F在SEM都與能譜(EDS)組合,可以進行成分分析。所以,SEM也是顯微結構分析的主要儀器,已廣泛用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。

場發射掃描電子顯微鏡之能譜儀(Energy Dispersive Spectrometer)。它是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。

0.00
0.00
  
商品描述

掃描電子顯微鏡,簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(Scanning Electron Microscope)。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析?,F在SEM都與能譜(EDS)組合,可以進行成分分析。所以,SEM也是顯微結構分析的主要儀器,已廣泛用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。

場發射掃描電子顯微鏡之能譜儀(Energy Dispersive Spectrometer)。它是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。


測試服務:SEM測試

品牌:日立(HITACHI) 型號:SU8010(SEM/EDX)


SEM測試原理:SEM是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析?,F在SEM都與能譜(EDS)組合,可以進行成分分析。所以,SEM也是顯微結構分析的主要儀器,已廣泛用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。

EDX測試機理:各種元素具有自己的X射線特征波長,特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E,能譜儀利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析。


掃描電鏡性能指標:

分辨率:1.0nm(15 kV);1.4nm(1 kV,WD=1.5mm,減速模式);2.0nm (1 kV,WD=1.5mm,普通模式);

放大倍數:30倍-800,000倍;

電子槍:冷陰極場發射電子源;

加速電壓:0.5-30kV(0.1KV/步,可變,普通模式)

樣品臺:X: 0-50mm Y:0-50mm.Z:1.5-30mm.T:-5-70°.R;360°

樣品尺寸最大直徑:100mm(標準)

信號選擇:二次電子模式和背散射模式,X射線信號,輔助信號

元素檢測范圍:Be 4~Am 95;


SEM來樣須知:

1、掃描電鏡不能做磁性樣品,樣品中不得含有鐵(Fe)、鈷(Co)、鎳(Ni);

2、樣品不得具有磁性,并且不易被磁化;

3、樣中不得含水分,如果是膠體溶液,可事先將液體滴在硅片或錫箔紙或載玻片上干燥后待測。

4、塊狀樣品高度小于10mm,直徑(或最大邊長)小于25mm:

5、多孔類或易潮解的樣品,請提前真空干燥處理;

6、生物樣品請自行預處理、干燥;

7、樣品應具有導電性。若樣品不導電,需要進行鍍金處理。





丰满人妻被公侵犯日本,H纯肉无遮掩3D动漫在线观看,老头在厨房添下面很舒服,公与熄大战波多野结衣